拍摄的科学仪器公司:新WDXRF Portaspec X系列台式X射线光谱仪能够执行multi-elemental分析在Ti U和可以用来测量涂层重量chrome和钛的方法。系统有一个可调测角仪,允许用户分析六个元素,预设顺序一次。两位样本架仪器不可分割的一部分,配置为测量液体、粉末、固体和薄膜。样品持有人的开口端改变,允许一个样本进行分析,而另一个被加载。仪器配有内置电脑,预装软件为计算机控制操作。

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