英国《金融时报》的档案 涂层厚度测量工具 2005年6月1日 HiSpeX是一个x射线荧光涂层厚度和组成测量工具用于测量金属薄膜厚度和组成元素组成固体的决心。它利用一个电动冷却硅pin二极管检波器耦合脉冲数字信号处理。设备适用于要求涂层应用在电影低于1000埃(4µin。)和/或二元和三元合金栈是必需的和复杂的合金涂层和/或基础材料需要确定。188金宝搏bet官网功能包括能够测量极薄涂料和复杂的合金。设备网络兼容和可编程自动化测量与瞄准射击图形辅助机动可编程阶段。 矩阵计量公司。 631-580-1290 www.matrixmetrologies.com 分享这个故事 你必须登录或注册以发布评论。 报告的评论 感谢您帮助我们改善我们的论坛。这是评论的进攻吗?请告诉我们为什么。
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